Murray, C.J.L.; Ikuta, K.S.; Sharara, F.; Swetschinski, L.; Robles Aguilar, G.; Gray, A.; Han, C.; Bisignano, C.; Rao, P.; Wool, E.; Johnson, S.C.; Browne, A.J.; Chipeta, M.G.; Fell, F.; Hackett, S.; Haines-Woodhouse, G.; Kashef Hamadani, B.H.; Kumaran, E.A.P.; McManigal, B.; Agarwal, R.; Akech, S.; Albertson, S.; Amuasi, J.; Andrews, J.; Aravkin, A.; Ashley, E.; Bailey, F.; Baker, S.; Basnyat, B.; Bekker, A.; Bender, R.; Bethou, A.; Bielicki, J.; Boonkasidecha, S.; Bukosia, J.; Carvalheiro, C.; Castañeda-Orjuela, C.; Chansamouth, V.; Chaurasia, S.; Chiurchiù, S.; Chowdhury, F.; Cook, A.J.; Cooper, B.; Cressey, T.R.; Criollo-Mora, E.; Cunningham, M.; Darboe, S.; Day, N.P.J.; De Luca, M.; Dokova, K.; Dramowski, A.; Dunachie, S.J.; Eckmanns, T.; Eibach, D.; Emami, A.; Feasey, N.; Fisher-Pearson, N.; Forrest, K.; Garrett, D.; Gastmeier, P.; Giref, A.Z.; Greer, R.C.; Gupta, V.; Haller, S.; Haselbeck, A.; Hay, S.I.; Holm, M.; Hopkins, S.; Iregbu, K.C.; Jacobs, J.; Jarovsky, D.; Javanmardi, F.; Khorana, M.; Kissoon, N.; Kobeissi, E.; Kostyanev, T.; Krapp, F.; Krumkamp, R.; Kumar, A.; Kyu, H.H.; Lim, C.; Limmathurotsakul, D.; Loftus, M.J.; Lunn, M.; Ma, J.; Mturi, N.; Munera-Huertas, T.; Musicha, P.; Mussi-Pinhata, M.M.; Nakamura, T.; Nanavati, R.; Nangia, S.; Newton, P.; Ngoun, C.; Novotney, A.; Nwakanma, D.; Obiero, C.W.; Olivas-Martinez, A.; Olliaro, P.; Ooko, E.; Ortiz-Brizuela, E.; Peleg, A.Y.; Perrone, C.; Plakkal, N.; Ponce-de-Leon, A.; Raad, M.; Ramdin, T.; Riddell, A.; Roberts, T.; Robotham, J.V.; Roca, A.; Rudd, K.E.; Russell, N.; Schnall, J.; Scott, J.A.G.; Shivamallappa, M.; Sifuentes-Osornio, J.; Steenkeste, N.; Stewardson, A.J.; Stoeva, T.; Tasak, N.; Thaiprakong, A.; Thwaites, G.; Turner, C.; Turner, P.; van Doorn, H.R.; Velaphi, S.; Vongpradith, A.; Vu, H.; Walsh, T.; Waner, S.; Wangrangsimakul, T.; Wozniak, T.; Zheng, P.; Sartorius, B.; Lopez, A.D.; Stergachis, A.; Moore, C.; Dolecek, C.; Naghavi, M. Global burden of bacterial antimicrobial resistance in 2019: A systematic analysis.
Lancet, 2022,
399(10325), 629-655.
[
http://dx.doi.org/10.1016/S0140-6736(21)02724-0] [PMID:
35065702]
